Измерение тепловых и электрических параметров микросхем импульсных преобразователей напряжения

Школин Алексей Николаевич, Дракин Александр Юрьевич, Потапов Леонид Алексеевич, Зотин Виталий Федорович

Статья посвящена разработке автоматизированного информационно-измерительного комплекса для контроля электрических и тепловых параметров микросхем импульсных преобразователей напряжения (ИПН). Проведен анализ возможностей современного тестового оборудования и анализ измерительных схем, необходимых для контроля параметров микросхем ИПН, определены требования к конструкции соответствующего тестера, выявлены ограничения при использовании существующих промышленно производимых тестеров. Получено техническое решение, в котором достигнуты высокие метрологические характеристики, которые и позволили наряду с достоверным определением электрических параметров микросхем определить также и переходную тепловую характеристику микросхем ИПН, тепловое сопротивление и температуру кристалла. Для контроля теплового сопротивления “кристалл-корпус” микросхем ИПН предложен способ, использующий сравнение начальных участков переходной тепловой характеристики контролируемой и эталонной микросхем.

Ключевые слова:автоматизированное тестовое оборудование, контроль параметров, высокочастотный импульсный преобразователь напряжения, тепловое сопротивление